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帝國博客
更多>>- 規格型號:69294880
- 頻率:32.768KHZ
- 尺寸:5.2 x 1.45 x 1.45mm
- 產(chǎn)品描述:32.768K時(shí)鐘晶體具有小型,薄型,輕型的貼片晶振表面音叉型晶體諧振器,產(chǎn)品具有優(yōu)良的耐熱性,耐環(huán)境特性,可發(fā)揮晶振優(yōu)良的電氣特性,符合RoHS規定,滿(mǎn)足無(wú)鉛焊接的高溫回流溫度曲線(xiàn)要求,金屬外殼的封裝使得產(chǎn)品在封裝時(shí)能...
Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振


Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振32.768K音叉型石英晶體諧振器產(chǎn)品具有以下幾種規格,3*8,2*6,我公司所有材料均是來(lái)自日本進(jìn)口,封裝測試設備采用日本精工儀器設備,并且從日本聘請高級技術(shù)工程師,我司所生產(chǎn)的32.768K晶體具有一致性良好,頻率穩定度高,耐抗震強,每批次出廠(chǎng)均采用24小時(shí)老化測試,產(chǎn)品精度分為以下幾種±20ppm,±10ppm,±5ppm,也可以根據客戶(hù)需求特殊分為+偏差,或者-偏差,晶振產(chǎn)品使用溫度高溫可達到+70°低溫可達到-40°產(chǎn)品被廣泛應用到比較高端的汽車(chē)電子產(chǎn)品,民用產(chǎn)品有家用電器,智能筆記本,MP3,MP4多功能播放器,智能手表等產(chǎn)品。

較低的CL和較低的ESR提高了回路的運行增益裕度,確保了所有變量的持續振蕩,Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振包括偏差,負載,溫度和時(shí)間變化。 Gm_critical是晶體必須實(shí)現的關(guān)鍵跨導值,以保持在環(huán)路運行的安全區域。不符合gm_critical的石英晶體諧振器與Pierce振蕩器不匹配,并可能導致與啟動(dòng)相關(guān)的長(cháng)期可靠性問(wèn)題。由于給定的Pierce振蕩器的功耗降低gm和gm_crictical,部署在物聯(lián)網(wǎng)和可穿戴應用中的節能設計最有可能發(fā)生故障。進(jìn)行PAS測試可降低風(fēng)險并提高系統的可靠性。
Abracon歐美晶振工程副總裁Syed Raza評論說(shuō):“半導體技術(shù)致力于將所有的功耗從最新一代的MCU和RF芯片組中扭轉出來(lái),芯片上的皮爾斯振蕩器缺乏必要的增益,對gm_critical指標產(chǎn)生不利影響。 PAS測試是診斷可預防問(wèn)題的最可靠的方法。


正常溫度和濕度:
溫度:+15°C 至 +35°C,濕度 25 % RH 至 85 % RH(請參閱“測試點(diǎn)JIS C 60068-1 / IEC 60068-1的標準條件”章節內容)。
(2) 請仔細處理內外盒與卷帶。外部壓力會(huì )導致卷帶受到損壞。
9.安裝時(shí)注意事項
9.1.耐焊性
加熱包裝材料至+150°C以上會(huì )破壞產(chǎn)品特性或損害產(chǎn)品。如需在+150°C以上焊接晶體產(chǎn)品,建議使用石英晶振SMD產(chǎn)品。在下列回流條件下,對晶體產(chǎn)品甚至SMD產(chǎn)品使用更高溫度,會(huì )破壞產(chǎn)品特性。建議使用下列配置情況的回流條件。安裝這些產(chǎn)品之前,應檢查焊接溫度和時(shí)間。同時(shí),在安裝條件更改的情況下,請再次進(jìn)行檢查。如果需要焊接的晶體產(chǎn)品在下列配置條件下進(jìn)行焊接,請聯(lián)系我們以獲取耐熱的相關(guān)信息。
保方針(3).jpg)

深圳市帝國科技有限公司
SHENZHEN DIGUO TECHONLOGY CO.,LTD
聯(lián)系人:譚蘭艾 手 機:86-13826527865
電 話(huà):86-0755-27881119 QQ:921977998
E-mail:dgkjly@163.com
網(wǎng) 址:www.luck-168.com.cn
地 址:中國廣東省深圳市寶安區西鄉大道新湖路

較低的CL和較低的ESR提高了回路的運行增益裕度,確保了所有變量的持續振蕩,Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振包括偏差,負載,溫度和時(shí)間變化。 Gm_critical是晶體必須實(shí)現的關(guān)鍵跨導值,以保持在環(huán)路運行的安全區域。不符合gm_critical的石英晶體諧振器與Pierce振蕩器不匹配,并可能導致與啟動(dòng)相關(guān)的長(cháng)期可靠性問(wèn)題。由于給定的Pierce振蕩器的功耗降低gm和gm_crictical,部署在物聯(lián)網(wǎng)和可穿戴應用中的節能設計最有可能發(fā)生故障。進(jìn)行PAS測試可降低風(fēng)險并提高系統的可靠性。
Abracon歐美晶振工程副總裁Syed Raza評論說(shuō):“半導體技術(shù)致力于將所有的功耗從最新一代的MCU和RF芯片組中扭轉出來(lái),芯片上的皮爾斯振蕩器缺乏必要的增益,對gm_critical指標產(chǎn)生不利影響。 PAS測試是診斷可預防問(wèn)題的最可靠的方法。

晶振參數 | 符號 | AB26TRQ晶振 | |
標準頻率 | fo | 32.768kHz | |
存儲溫度 | T_stg | -55℃ ~ + 125℃ | |
工作溫度 | T_use | -40℃ ~ + 85℃ | |
頻率穩定度 | F_tol | ±20.0×10-6 Max | |
激進(jìn)電平 | DL | 1.0 uW Max | |
轉換溫度 | TI | ﹢25℃± 5℃ | |
拋物系數 | B | -0.035 ×10-6 /℃2 Max | |
耐沖擊性 | S.R | ±5 ×10-6 Max | |
負載電容 | CL | 12.5pF | |
串聯(lián)電阻(ESR) | R1 | 30 KΩ Max | |
頻率老化 | F_age | ± 5 ×10-6 /years Max |


存儲事項
(1) 在更高或更低溫度或高濕度環(huán)境下長(cháng)時(shí)間保存Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振晶體產(chǎn)品時(shí),會(huì )影響頻率穩定性或焊接性。請在正常溫度和濕度環(huán)境下保存這些石英晶體產(chǎn)品,并在開(kāi)封后盡可能進(jìn)行安裝,以免長(cháng)期儲藏。正常溫度和濕度:
溫度:+15°C 至 +35°C,濕度 25 % RH 至 85 % RH(請參閱“測試點(diǎn)JIS C 60068-1 / IEC 60068-1的標準條件”章節內容)。
(2) 請仔細處理內外盒與卷帶。外部壓力會(huì )導致卷帶受到損壞。
9.安裝時(shí)注意事項
9.1.耐焊性
加熱包裝材料至+150°C以上會(huì )破壞產(chǎn)品特性或損害產(chǎn)品。如需在+150°C以上焊接晶體產(chǎn)品,建議使用石英晶振SMD產(chǎn)品。在下列回流條件下,對晶體產(chǎn)品甚至SMD產(chǎn)品使用更高溫度,會(huì )破壞產(chǎn)品特性。建議使用下列配置情況的回流條件。安裝這些產(chǎn)品之前,應檢查焊接溫度和時(shí)間。同時(shí),在安裝條件更改的情況下,請再次進(jìn)行檢查。如果需要焊接的晶體產(chǎn)品在下列配置條件下進(jìn)行焊接,請聯(lián)系我們以獲取耐熱的相關(guān)信息。
保方針(3).jpg)
Abracon集團將有效率的使用自然資源和能源,以便從Abracon晶振,石英晶振,AB26TRQ晶振,無(wú)鉛晶振 無(wú)源晶體源頭減少廢物產(chǎn)生和排放。我們將在關(guān)注于預防環(huán)境和安全事故,保護公眾健康的同時(shí),努力改進(jìn)我們的操作。我公司將積極參與加強公眾環(huán)境、健康和安全意識的活動(dòng),提高公眾對普遍的環(huán)境、健康和安全問(wèn)題的注意。
Abracon進(jìn)口晶振所有的經(jīng)營(yíng)組織都將積極應用國際標準以及適用的法律法規。為促進(jìn)合理有效的公共政策的制訂實(shí)施加強戰略聯(lián)系。
消除事故和環(huán)境方面的偶發(fā)事件,減少廢物的產(chǎn)生和排放,有效的使用能源和各種自然資源,對緊急事件做好充分準備,以便及時(shí)做出反應。
Abracon進(jìn)口晶振所有的經(jīng)營(yíng)組織都將積極應用國際標準以及適用的法律法規。為促進(jìn)合理有效的公共政策的制訂實(shí)施加強戰略聯(lián)系。
消除事故和環(huán)境方面的偶發(fā)事件,減少廢物的產(chǎn)生和排放,有效的使用能源和各種自然資源,對緊急事件做好充分準備,以便及時(shí)做出反應。


SHENZHEN DIGUO TECHONLOGY CO.,LTD
聯(lián)系人:譚蘭艾 手 機:86-13826527865
電 話(huà):86-0755-27881119 QQ:921977998
E-mail:dgkjly@163.com
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