石英晶體諧振頻率和諧振電阻都隨時(shí)間的延續而變化，這就是所說(shuō)的老化，人們最關(guān)注的是諧振頻率隨時(shí)間的變化。

　　對AT切晶體來(lái)說(shuō)，在晶體使用初期，老化主要受元件內部應力釋放影響，頻率向升高方向變化，而后期受電極膜吸附的影響，，其頻率按對數關(guān)系向降低方向變化，隨時(shí)間增加變化量逐漸降低。為減小出廠(chǎng)時(shí)的老化率，生產(chǎn)商大都對產(chǎn)品進(jìn)行了預老化。

　　對老化指標，一般都規定產(chǎn)品的老化水平,而它并非明確的試驗條件,這種“水平”，是通過(guò)生產(chǎn)有計劃的抽檢而獲得的?？赡苣承﹤€(gè)別晶振元件比規定水平會(huì )差，這是允許的。

　　目前電阻焊密封的石英晶體元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下，對于普通精度產(chǎn)品（頻差大于±30×10-6）的應用來(lái)說(shuō)，老化指標對元件工作影響并不是很重要，對于小公差（±0×10-6）以下）的石英晶振元器件來(lái)說(shuō)老化是需要關(guān)注的指標。